стоимость доставки по тарифам ТК.
Цены, указанные на сайте только для ознакомления. Актуальные цены уточняйте у менеджера по телефону, почте или оформив заказ на сайте
Комплект учебно-лабораторного оборудования предназначен для изучения основных методов измерения (на примере измерения линейных величин), измерения и контроля отклонений формы, расположения и комплексных отклонений, статистического контроля процессов с элементами статистического регулирования,
оценки погрешности измерения с определением методической составляющей, выбора схемы измерения и исследование влияния схемы базирования на погрешность измерения.
Базовая комплектация:
| Лабораторный стол | 1 |
| Кейс для хранения деталей | 1 |
| Координатный стол КТ70 | 1 |
| Призма магнитная | 1 |
| Упор для базирования плоских образцов | 2 |
| Штангенциркуль 150 мм | 1 |
| Индикатор типа 05205 | 1 |
| Штатив магнитный ШМ-IIН | 1 |
| Задняя бабка Optimum RST1 | 2 |
| Станина | 1 |
| Образец цилиндрический, ступенчатый с отклонением от соосности | 1 |
| Образец цилиндрический, ступенчатый с отклонением формы типа овальности одной поверхности и типа огранки другой поверхности | 1 |
| Образец цилиндрический с 10-ю поверхностями одного номинального диаметра, изготовленный по различным квалитетам точности с различными основными отклонениями | 1 |
| Образец с двумя плоскими поверхностями, имеющими отклонение от параллельности | 1 |
| Образец с двумя плоскими поверхностями, имеющими отклонения формы типа выпуклости и вогнутости | 1 |
- Лабораторный стенд "Метрология длин".
- Лабораторный стол.
- Кейс для хранения деталей.
- Паспорт изделия.
- Руководство по эксплуатации.
- Габариты: не более 450 х 250 х 450 мм.
- Масса: не более 20 кг.
- Основная погрешность измерений не более 0,05 мм.
- Погрешность позиционирования (вертикальная) при продольном перемещении образцов не более 0,05 мм.
- Габариты цилиндрических образцов не более 80 х 30 мм.
- Габариты плоских образцов не более 50 х 50 х 50 мм.
Целью данного практикума является изучение и исследование методов и процессов измерений, их метрологического обеспечения, возможностей типовых технологий измерения и контроля, а также контроля линейных величин и перемещений, включая размеры, отклонения формы и расположения поверхностей типовых деталей (образцов). Комплекс может быть использован в лабораторном практикуме по дисциплинам "Метрология, взаимозаменяемость и стандартизация" и "Технология технического контроля" в высших учебных заведениях.
- Координатный стол КТ70.
- Призма магнитная.
- Упор для базирования плоских образцов (2 шт.).
- Штангенциркуль 150 мм.
- Индикатор типа 05205.
- Штатив магнитный ШМ-IIН.
- Задняя бабка Optimum RST1 (2 шт.).
- Станина.
- Образец цилиндрический, ступенчатый с отклонением от соосности.
- Образец цилиндрический, ступенчатый с отклонением формы типа овальности одной поверхности и типа огранки другой поверхности.
- Образец цилиндрический с 10-ю поверхностями одного номинального диаметра, изготовленный по различным квалитетам точности с различными основными отклонениями.
- Образец с двумя плоскими поверхностями, имеющими отклонение от параллельности.
- Образец с двумя плоскими поверхностями, имеющими отклонения формы типа выпуклости и вогнутости.
Обучение в современном обществе занимает важное место, уступая по значимости лишь немногим другим вопросам. Сложная структура современной цивилизации требует качественного образования для полноценного участия в жизни общества. В этом контексте важнейшим становится разработка новых и эффективных методов преподавания, среди которых особое внимание уделяется наглядному обучению.
